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1 | User | Film | Recipe | Substrate T | Thickness | Dep.time | JAW EC-400 (Woolam Spec. Ell.) | Dep.rate | Stress | BHF etch rate wafer | LPD ( light point defects) | AVG dep.rate | AVG+10% | AVG-10% | Avg index | AVG+1% | AVG -1% | AVG.Stress | Avg+30% | Avg-30% | Comments/Brian Lingg PM | ||||||
2 | |||||||||||||||||||||||||||
3 | 1/1/2012 | User | SiO2 | SiO2_10 | 250° C | (Å) | sec | Index @ 632.8nm | Index @ 1550nm | ( nm/min) | (MPa) | ( nm/min) | before dep. | after dep. | Index @ 632.8nm | Deposition done on 4"Si wafer | |||||||||||
4 | Index | Dep.rate | Stress | Avg.dep.rate | Avg+10% | Avg-10% | Avg.Index | Avg+1% | Avg-1% | Avg.Stress | Avg+30% | Avg-30% | |||||||||||||||
5 | 01-06-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1013.74 | 176.6 | 1.463 | 1.459 | 34.44 | -401.73 | 284 | 1059 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Grouped particles | ||||
6 | 01-23-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1069.74 | 176.6 | 1.456 | 1.445 | 36.34 | -375.92 | 604.28 | 159 | 290 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | 1/23/2014 | |||
7 | 02-03-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1047.82 | 176.6 | 1.456 | 1.451 | 35.60 | -346.54 | 604.71 | 304 | 451 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film is much darker in the center | |||
8 | 02-18-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1031.00 | 176.6 | 1.454 | 1.444 | 35.03 | -397.61 | 545.75 | 48 | 274 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | 2/14/14 Silane change | |||
9 | 03-14-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1053.21 | 176.6 | 1.455 | 1.444 | 35.78 | -364.72 | 600.97 | 112 | 222 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||
10 | 04-08-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1070.80 | 176.6 | 1.465 | 1.454 | 36.38 | -460.47 | 578.93 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||||
11 | 04-17-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1035.09 | 176.6 | 1.464 | 1.453 | 35.17 | -496.06 | 547.76 | 103 | 217 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||
12 | 05-05-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1075.51 | 176.6 | 1.468 | 1.457 | 36.54 | -462.66 | 531.80 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||||
13 | 05-20-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1066.69 | 176.6 | 1.454 | 1.444 | 36.24 | -311.94 | 863.82 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||||
14 | 06-04-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1064.00 | 176.6 | 1.464 | 1.459 | 36.15 | 671.20 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Stress data weird? | ||||||
15 | 06-16-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 989.33 | 176.6 | 1.456 | 1.445 | 33.61 | -438.88 | 903.22 | 15 | 62 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Wafer moved during deposition | |||
16 | 08-01-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1027.16 | 176.6 | 1.464 | 1.453 | 34.90 | -500.68 | 672.54 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | 7/31/2014 | |||||
17 | 08-14-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 995.80 | 176.6 | 1.463 | 1.452 | 33.83 | -457.62 | 692.45 | 36 | 192 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | Film darker in the center | |||
18 | 08-29-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1004.45 | 176.6 | 1.456 | 1.446 | 34.13 | -365.57 | 575.58 | 141 | 923 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | A lot of small particles in the center | |||
19 | 09-16-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1007.15 | 176.6 | 1.462 | 1.457 | 34.22 | -322.60 | 525.81 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | used old wafer, not clean enough( dots after HF etch) | |||||
20 | 10-01-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1043.66 | 176.6 | 1.470 | 1.459 | 35.46 | -515.38 | 671.08 | 264 | 1092 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | A lot of particles! Why? PM? | |||
21 | 10-15-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1036.30 | 176.6 | 1.460 | 1.449 | 35.21 | -415.82 | 737.85 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | 10/14/14 Silane change | |||||
22 | 11-06-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1094.46 | 176.6 | 1.460 | 1.449 | 37.18 | -396.71 | 536.44 | 73 | 234 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | 10/23/2014 | |||
23 | 11-25-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1137.09 | 176.6 | 1.463 | 1.453 | 38.63 | -314.80 | 545.14 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | ||||||
24 | 12-08-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1090.44 | 176.6 | 1.464 | 1.454 | 37.05 | -389.84 | 589.49 | 129 | 436 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | ||||
25 | 12-23-14 | Biljana | SiO2 | SiO2_10 | 250 | 1137.40 | 176.6 | 1.464 | 1.459 | 38.64 | -460.70 | 540.54 | 35.74 | 39.31 | 32.17 | 1.461 | 1.476 | 1.446 | -409.81 | -532.76 | -286.87 | ||||||
26 | Avg.Thickness | 1051.94 | Avg Index | 1.461 | 1.452 | ||||||||||||||||||||||
27 | Index+1% | 1.476 | 1.466 | ||||||||||||||||||||||||
28 | Index-1% | 1.446 | 1.437 | ||||||||||||||||||||||||
29 | Avg Dep.Rate | 35.74 | |||||||||||||||||||||||||
30 | Avg +10% | 39.31 | |||||||||||||||||||||||||
31 | Avg - 10% | 32.17 | |||||||||||||||||||||||||
32 | Avg. Stress | -409.81 | |||||||||||||||||||||||||
33 | Avg +30% | -532.76 | |||||||||||||||||||||||||
34 | Avg - 30% | -286.87 | |||||||||||||||||||||||||
35 | Avg. HF e.r. | 626.97 | |||||||||||||||||||||||||
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