Nuove metodologie di analisi con l'oscilloscopio (Luigi Lorusso)
Grazie ai continui sforzi in ricerca e sviluppo per la parte sia hardware, in termini di componentistica quali ADC, ASIC e FPGA introdotti nella catena di acquisizione, sia software e firmware, con l’integrazione di applicativi dedicati o di funzioni innovative atte a semplificare la misura, l’oscilloscopio si configura sempre più come lo strumento di analisi universale. Scopo di questa sessione sarà illustrare le novità quali:
- Trigger Digitale, differenze di acquisizione e vantaggi rispetto alle strutture analogiche
- High Definition Mode, come il processing digitale permette elevate risoluzioni ad elevata sensibilità del trigger
- Update Rate, perché le nuove strutture permettono di osservare meglio il segnale
- FFT in Hardware, utilizzo di un ASIC dedicato per la rappresentazione spettrale del segnale ed una corretta correlazione tempo-frequenza

Basic of signal integrity – Eye diagram, Jitter measurement, De-embedding & TDR/TDT with high bandwidth, real time, hw accelerated oscilloscopes. (Tommaso Tessitore)
L’uso dei dati seriali è sempre più diffuso in tutte le applicazioni elettroniche e la richiesta di prestazioni sempre maggiori ne ha fatto crescere la velocità in maniera esponenziale (da centinaia di Mbit/s a decine di Gbit/s). Ad applicazioni che già ne fanno largo uso da tempo, come quelle Telecom e Datacom, se ne affiancano oggi altre, come quelle dell’Aerospazio e della Difesa e soprattutto quelle del mondo Automotive.
Questa presentazione è indirizzata a tutti coloro che si affacciano per la prima volta all’analisi di dati seriali veloci (Gbit/s). Fornisce un’idea di quelle che sono le problematiche della integrità del segnale e indica le misure di base, come il diagramma dell’occhio (Eye diagram) e le misure di jitter, necessarie a garantire progetti affidabili con tempi di sviluppo ridotti. Nella seconda parte verrà illustrato il concetto di De-embedding, i benefici di poterlo effettuare in tempo reale ed il concetto di base di matrice di scattering o S-Parameter.