特許庁特別セミナー申し込みフォーム
定員になり次第締め切りとさせていただきます。
・受講証等の発行はいたしませんので、当日、直接会場へお越しください。定員オーバーのためご参加いただけない場合のみご連絡をさせていただきます。
なお、E-mail でお申込の場合は、受信確認の返信をいたします。
・個人情報は,当事業の実施及び主催者からの情報提供のみに利用させていただきます。
テーマ名:特許・意匠データから見える日本のイノベーションの風景と「デザイン経営」のススメ
日時:2月22日 13:30~15:30
場所:京都リサーチパーク1号館4階B会議室
講師:岡田 吉美氏 審査第一部分析診断審査長
  (併任:審査第一部調整課・審査調査室長)
   清野 貴雄氏
   審査第一部意匠課意匠制度企画室主任上席審査官
  (意匠制度企画担当)

参加費:無料

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