SYSTÈMES INTERFÉROMÉTRIQUES ET IMAGERIE |
Responsable Adresse mail Numéro de téléphone | Jihad ZALLAT Professeur jihad.zallat@unistra.fr, bureau B 257, 03 68 85 45 14 | |
Autre(s) enseignant(s) | “N/A” |
Code APOGEE Formation - Année - Option - Semestre Coefficient = ECTS Volume horaire | EP013M48 Ingénieur - 3A G Photo - S9 Master - 2A MPhot - S3 2 / 3 21h CM |
EXAMENS Durée Documents autorisés Si oui, lesquels : Calculatrice école autorisée | Session 1 CT 1h45 / Contrôle continu / Travail de recherche Non Non | Session 2 oral 30 mn Oui / Non Oui / Non |
Prérequis Optique physique, géométrique et ondulatoire, analyse de Fourier, quantification et échantillonnage du signal | ||
Objectifs du cours Fournir aux étudiants des compétences approfondies sur les méthodes expérimentales en métrologie optique en utilisant les propriétés intrinsèques de la lumière. | ||
Programme détaillé Rappels : Ondes et faisceaux Mesures optiques : phase, polarisation, fréquence Lasers et faisceaux gaussiens, faisceaux non diffractifs Interférence : Ondes cohérentes, Interférence, Interférométrie, Méthodes d’évaluation de la phase, hétérodynage. Diffraction : Définitions, Imagerie dans l’espace reel et dans l’espace de Fourier, Filtrage optique, résolution d’un système optique Composants optiques en métrologie: Eléments mécaniques: moteurs, miroirs-PZT, platines translations, positionnement, balayage, … Détecteurs : caractéristiques d’un détecteur, photoconducteurs, photodiodes, photomultiplicateurs, capteurs pixellisés..) Modulateurs: électro-optiques, magnéto-optiques, acousto-optiques, principes et utilisation Holographie interférométrique: Principe, enregistrement et reconstruction, Types d’hologrammes, montages expérimentaux, formation de franges, mesures de déplacements, mesures dimensionnelles, holographie numérique Métrologie de Speckle: Phénomène de speckle, caractérisation du speckle, figures de speckle et surfaces, mesures de déplacements, mesures de vitesses, filtrage de speckle, interferometrie de speckle. Méthodes intérférométriques en microscopie, Autres méthodes de mesures optiques. | ||
Applications (TD, TP ou projets) Exemples choisis avec modélisation sous MATLAB | ||
Compétences acquises A l'issue de cet enseignement, l'étudiant aura appris à comprendre et à utiliser les propriétés de cohérence de la lumière pour concevoir un système de métrologie interférentielle. |